[题名]：高温超导薄膜微波表面电阻的测试
[TiMing]：GaoWenChaoDaoBaoMoWeiBoBiaoMianDianZuDeCeShi
[作者]：张映敏[ZuoZhe]：ZhangYingMin[专业]：物理电子学[ZhuanYe]：WuLiDianZiXue
[导师]：罗正祥[DaoShi]：LuoZhengXiang[学位]：硕士[XueWei]：ShuoShi
[单位]：电子科技大学[DanWei]：DianZiKeJiDaXue
[关键词]：高温超导薄膜;测试系统;微波表面电阻
[时间]：20010301[页数]：54页[点击]：20042[分类号]：TM26;TN304[语种]：中文文摘[来源]： 毕业论文
[文摘]：随着高温超导薄膜的广泛应用和制备技术的提高,迫切需要对高温超导薄膜的微波特性参数R<,S>进行研究.该文详细介绍了一种采用低损耗高介电常数的兰宝石构成工作在TE<,011+δ>谐振模式的介质谐振器.该文制作了一个工作在12GH<,Z>附近的兰宝石介质谐振器测试系统,利用它对HTS薄膜的微波表面电阻进行测试,测试灵敏度高,提高了整个测试系统的品质因素.
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